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  • 博達微FS-Pro半導體參數測試系統
    博達微FS-Pro半導體參數測試系統

    博達微FS-Pro半導體參數測試系統是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析設備，在一個系統中實現了電流電壓 (IV) 測試、電容電壓 (CV) 測試、脈沖式 IV 測試、任意線性波形發生與測量、高速時域信號釆集以及低頻噪聲測試能力。

    更新日期：2024-01-29型號：訪問量：1079
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