QT-8100HP模擬IC測試系統(tǒng)

簡要描述：QT-8100HP模擬IC測試系統(tǒng)常規(guī) DC、AC 參數(shù)測試、分立器件 Wafer 多 site 和 IC 功能性測試主要測試：電源管理類，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類，音頻放大器、高速光耦、運(yùn)放、小功率分立器件等

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品牌	其他品牌	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子,交通,汽車,電氣

QT-8100HP模擬IC測試系統(tǒng)

常規(guī) DC、AC 參數(shù)測試、分立器件 Wafer 多 site 和 IC 功能性測試主要測試：電源管理類，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類，音頻放大器、高速光耦、運(yùn)放、小功率分立器件等

QT-8100HP模擬IC測試系統(tǒng)

QT-8100HP模擬IC測試系統(tǒng)

型號(hào)	QT-8100
產(chǎn)品優(yōu)勢	數(shù)模混合IC測試系統(tǒng)適用于常規(guī)DC、AC參數(shù)測試和混合類及模擬類IC器件功能性測試。主要測試：電源管理類，數(shù)碼消費(fèi)類，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類，音頻放大器、運(yùn)放等
主要特點(diǎn)	• 懸浮V/I源，四象限 • 由測試盒引出全資源，8site并測 • 數(shù)字速率100Mhz，向量深度8M • 真并測，多路1000V/20A高壓大電流 • 18 bit 高精密采樣 • 20 個(gè)模擬槽位（Max 216通道）/ 8 個(gè)數(shù)字槽位（ Max 128通道） • 多通道高精度時(shí)間測量單元，支持ns級(jí)別時(shí)間測量 • 支持RF模組擴(kuò)展 • PCIE 卡，測試效率更高

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