TH2851-130精密阻抗分析儀

• TH2851系列阻抗分析儀是常州同惠電子采用當(dāng)前*的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的最新高度。

     TH2851系列阻抗分析儀比傳統(tǒng)國(guó)產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面，基于Windows10操作系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面，讓測(cè)試更智能、更簡(jiǎn)便。

     TH2851系列阻抗分析儀也*超越了國(guó)外同類(lèi)儀器120MHz的頻率瓶頸；解決了國(guó)外同類(lèi)儀器只能分析、無(wú)法單獨(dú)測(cè)試的缺陷；中英文操作界面也解決了國(guó)外儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測(cè)和分析兩種界面，讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。

     快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)100MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

     

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• A.  高精度

  自動(dòng)平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用，得以在10Hz-130MHz頻率、1mΩ-100M的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的測(cè)量精度，其中最高精度達(dá)0.08%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于射頻反射測(cè)量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。

  

  B.  高穩(wěn)定性和高一致性
  

  下圖是在速度5、測(cè)試頻率1MHz，測(cè)量100Ω電阻的曲線，由下圖可見(jiàn)其軌跡噪聲≦0.003%（≦±0.0015Ω）

  

  
  

  C.  高速度

  

  
  

  D.  10.1寸大屏，四種測(cè)量參數(shù)，讓細(xì)節(jié)一覽無(wú)遺
  

  10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、LAN、VGA/HDMI接口，帶來(lái)的是無(wú)以倫比的操作便捷性。

  大屏幕帶來(lái)更多的好處是，可以把所有測(cè)試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來(lái)絕不擁擠和雜亂，同時(shí)可以顯示四種測(cè)量參數(shù)，四種測(cè)量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測(cè)試參數(shù)

  

  
  

     E.  增強(qiáng)的列表掃描功能
  

  可以最多設(shè)置1601點(diǎn)的列表掃描，每個(gè)點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測(cè)試頻率、測(cè)試電壓、直流偏置等測(cè)試條件。

  

  
  

  F.  強(qiáng)大的分析圖形界面

  
  

  最多通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法

  
  

  
  

  G.分段掃描功能

  最多可以4通道同時(shí)顯示，每個(gè)通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。分段掃描是在一個(gè)掃描周期內(nèi)，設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描，掃描時(shí)可設(shè)置不同的電平及偏置，掃描結(jié)果直接圖形顯示，用于需要快速篩選多個(gè)頻率段參數(shù)的掃描需求。

  如晶體諧振器需要測(cè)試標(biāo)稱(chēng)諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過(guò)分段掃描共呢個(gè)可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測(cè)量，無(wú)需掃描不相關(guān)頻率。

  
  

  H.強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力

  TH2851系列精密阻抗分析儀具有強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力，可以通過(guò)光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能：

  1. 讀取測(cè)量結(jié)果的數(shù)值（作為絕對(duì)數(shù)值或者相對(duì)于參考點(diǎn)的相對(duì)值）

  2. 查找曲線上的特定點(diǎn)（光標(biāo)查找）

  3. 分析曲線測(cè)量結(jié)果，計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

  4. 使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放

  TH2851 可以在每條曲線上顯示 10 個(gè)光標(biāo)，包括了參考光標(biāo)。

  每個(gè)光標(biāo)有一個(gè)激勵(lì)值（坐標(biāo)系 X 軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）和響應(yīng)值（坐標(biāo)系 Y 軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）。

  光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測(cè)量點(diǎn)：最大值、最小值

  峰谷值： 峰值（極大值）、谷值（極小值）、光標(biāo)左側(cè)最近的峰谷值、光標(biāo)右側(cè)最近的峰谷值、多重峰谷值

  目標(biāo)值： 距離光標(biāo)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)左側(cè)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)右側(cè)最近的目標(biāo)值、多重目標(biāo)值

  
  

  G.強(qiáng)大的圖形分析功能

  1） 曲線分選功能

  可以對(duì)掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測(cè)試值進(jìn)行合格/不合格判斷，常用于諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。

  2）等效電路分析測(cè)試

  現(xiàn)實(shí)生活中不同類(lèi)型的器件可以被等效成簡(jiǎn)單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路分析測(cè)試功能提供了7種基本的電路模型用于等效這些器件。

  可以通過(guò)仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實(shí)際測(cè)量的阻抗曲線進(jìn)行對(duì)比，還可以通過(guò)您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進(jìn)行擬合。

  等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用

  

  

  3） 晶體振蕩器分析

  對(duì)壓電陶瓷等晶體進(jìn)行測(cè)量以及性能分析，測(cè)量計(jì)算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。

  

  
  

  TH2851-130精密阻抗分析儀曲線軌跡對(duì)比

  曲線軌跡對(duì)比用于對(duì)被測(cè)件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量，所有曲線顯示在同一個(gè)坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用：

  a) 針對(duì)多種不同被測(cè)件

  對(duì)比不同測(cè)量條件下的曲線軌跡

  設(shè)置不同的頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值

  b) 針對(duì)同一個(gè)被測(cè)件

  對(duì)比同一個(gè)條件下測(cè)量的多次測(cè)量結(jié)果重復(fù)性

  設(shè)置不同頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值。

  

  
  

  F.標(biāo)配附件

  

  F.選配附件

  

  
  

• 應(yīng)用

• ■ 無(wú)源元件：

  電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。

  ■ 半導(dǎo)體元件：

  LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

  ■ 其它元件：

  印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等阻抗評(píng)估

  ■ 介質(zhì)材料：

  塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

  ■ 磁性材料：

  鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估

  ■ 半導(dǎo)體材料：

  半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

  ■ 液晶單元：

  介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

  
  

• 技術(shù)參數(shù)

• 產(chǎn)品型號(hào)		TH2851-015	TH2851-030	TH2851-050	TH2851-080	TH2851-130
  顯示		10.1英寸TFTLCD顯示器1280×RGB×800，電容式觸摸屏
  AC測(cè)量參數(shù)		Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC
  DC測(cè)量參數(shù)		VDC、IDC、DCR
  測(cè)試頻率	范圍	10Hz - 15MHz	10Hz - 30MHz	10Hz - 50MHz	10Hz - 80MHz	10Hz - 130MHz
  	最高分辨率	1mHz
  	頻率相對(duì)誤差	≤±0.0007%
  測(cè)試電平	AC電壓	5mV - 2Vrms
  	分辨率	1mV
  	AC電流	50uA - 20mArms
  	分辨率	10uA
  DC偏置	電壓	0V - ±40V
  	電壓分辨率	1mV
  	電流	0mA - ±100mA
  	電流分辨率	40μA
  測(cè)試端配置		四端對(duì)
  輸出阻抗		25Ω/100Ω
  典型測(cè)量時(shí)間（速度）		五檔：1(快速) - 5(精確) 1:2.5ms       2:10ms     3:40ms     4:80ms      5:400ms （不包括通訊時(shí)間的算數(shù)平均值，每個(gè)頻率測(cè)試速度會(huì)略有不同）
  最高準(zhǔn)確度		1kHz：0.08% 1MHz：0.08% 2MHz：0.5% 10MHz：1% 130MHz：5.0%
  測(cè)量顯示范圍		a   1×10-18；  E   1×1018
  Cs、Cp		±1.00000   aF - 999.999 EF
  Ls、Lp		±1.00000   aH - 999.999 EH
  D		±0.00001   - 9.99999
  Q		±0.01   - 9999.99
  R、Rs、Rp、X、Z		±1.00000   aΩ - 999.999 EΩ
  G、B、Y		±1.   00000 aS -  999.999 ES
  Vdc		±1.00000   aV - 999.999 EV
  Idc		±1.00000   aA - 999.999 EA
  θr		±1.00000   a rad - 3.14159 rad
  θd		±0.0001   deg - 180.000 deg
  Δ%		±0.0001%   - 999.999%
  多功能參數(shù)列表掃描		1601點(diǎn)，每個(gè)點(diǎn)可設(shè)置平均數(shù)，每個(gè)點(diǎn)可單獨(dú)分選 掃描參數(shù)：測(cè)量參數(shù)、測(cè)試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流
  圖形掃描	參數(shù)	頻率、ACV、ACI、DCV、DCI
  	類(lèi)型	對(duì)數(shù)、線性、頻率分段
  	點(diǎn)數(shù)	2-1601
  	通道數(shù)	4
  	曲線數(shù)	4條/通道
  	分屏顯示	16種（通道和曲線）
  等效電路分析		3元件模型：4個(gè)、4元件模型：3個(gè)
  晶體振蕩器分析		有
  曲線軌跡比對(duì)		有
  分選		LCR模式10檔分選；掃描模式每條曲線單獨(dú)分選
  接口		RS232C，USB   HOST、USB   DEVICE、LAN、GPIB、HANDLER、VGA、HDMI
  開(kāi)機(jī)預(yù)熱時(shí)間		60分鐘
  輸入電壓		100-120VAC/198-242VAC可選擇，47-63Hz
  功耗		最大150VA
  尺寸（WxHxD）mm3		428x220x325
  重量		14.5kg