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吉時利2601B-PULSE脈沖發(fā)生器

簡要描述:吉時利2601B-PULSE脈沖發(fā)生器Keithley 2601B-PULSE 系統(tǒng)源表® 10μs 脈沖發(fā)生器/SMU集成高電流源/高速脈沖發(fā)生器和傳統(tǒng)SMU的全部功能在一個儀器上。行業(yè)10A和10V量程10μs脈沖和雙1 MS / s數(shù)字化功能顯著提高測試能力,應用場景從臺式表征儀器到高度自動化生產(chǎn)測試。

  • 產(chǎn)品型號:2601B-PULSE
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-01-27
  • 訪  問  量:1432

詳細介紹

品牌其他品牌產(chǎn)地類別進口
應用領域能源,電子,交通,汽車,電氣

吉時利2601B-PULSE脈沖發(fā)生器

Keithley 2601B-PULSE 系統(tǒng)源表® 10μs 脈沖發(fā)生器/SMU集成高電流源/高速脈沖發(fā)生器和傳統(tǒng)SMU的全部功能在一個儀器上。行業(yè)10A和10V量程10μs脈沖和雙1 MS / s數(shù)字化功能顯著提高測試能力,應用場景從臺式表征儀器到高度自動化生產(chǎn)測試。

 

實現(xiàn)高保真度脈沖,無需手動進行脈沖調(diào)諧

2601B-PULSE控制環(huán)路系統(tǒng)能消除大到3μH感抗的手動調(diào)諧, 在10A內(nèi)任意量程,脈沖從10μs到 500μs的輸出,確保您的脈沖沒有超調(diào)和振鈴。脈沖的上升時間< 1.7μs,保證你可以正確的進行器件表征或電路測試。

  • 輸出10A@10V,10 μs脈沖寬度
  • 脈沖的上升時間< 1.7μs
  • 高保真度的脈沖輸出,任何電流量程都不需要調(diào)整

KI10A RiseTime

2601B Pulse Pulser Plus SMU

將快速脈沖發(fā)生器和SMU的功能整合在一臺儀器中

2601B-PULSE增強了脈沖功能,提供*的測量完整性,您可以了解行業(yè)Keithley 2601B 源表的同步性,高速和準確性。

  • 脈沖發(fā)生器0.05%的基本測量精度與1Ms/s的數(shù)字化器
  • 源表100 nA微小電流量程與100 fA靈敏度
  • 后面板BNC端口支持快速電纜設置

為不足的生產(chǎn)吞吐量提供嵌入式腳本和連接性

測試腳本處理器(TSP®)技術在SMU儀器中嵌入并執(zhí)行完整的測試程序,以提供業(yè)界性能。®TSP-Link技術支持多達32個TSP-Link節(jié)點的擴展,以創(chuàng)建高速的SMU-Per-Pin并行測試,而無需大型主機。

  • 消除了電腦連接的總線通信的延遲
  • *的數(shù)據(jù)處理和流程控制
  • 多連接32個TSP-Link節(jié)點
  • 隨著測試需求的變化,可以輕松地重新配置

2601B PUlse Embedded Scripting

吉時利2601B-PULSE脈沖發(fā)生器

 

TOF/LIDAR應用激光二極管(VCSEL)的生產(chǎn)測試

激光二極管的理想解決方案垂直腔表面發(fā)射激光器(VCSEL) LIV生產(chǎn)測試, 2601B-PULSE系統(tǒng)源表其高速度和高精度的10μs脈沖發(fā)生器為VCSELs,VCSEL組和激光雷達模塊提供電流脈沖源和電壓電流監(jiān)測。源表提供了高性價比的LIV儀器與高系統(tǒng)同步和吞吐量。

  • 可編程脈沖電流源10A和10µs脈沖寬度
  • 電壓和電流的測量分辨率在100 nV和100 fA
  • 內(nèi)置的TSP®處理能力減少電腦和儀器的總線通信
  • 簡化了LED的脈沖和直流的IV特性

    2601B-PULSE*的電流脈沖、直流電壓和電流能力使高速LED直流和脈沖IV表征和生產(chǎn)測試具有0.015%的基本測量精度。脈沖測試MicroLED、LED或高亮LED(HBLED)可大限度地減少自熱,減少對測量精度的負面影響,并消除對被測設備損壞的擔憂。

  • 可編程電流源10A和10µs脈沖寬度
  • 電壓和電流的測量分辨率在100 nV和100 fA
  • 1Ms/s,用于快速采集源和測量數(shù)據(jù)
  • 內(nèi)置的TSP處理能力減少了電腦和儀器的總線通信
  • 晶圓半導體測試

    Keithley的2601B-PULSE和其他2600B系列系統(tǒng)源表儀器通過機架組合,可伸縮性和靈活性與基于大型機的系統(tǒng)的集成和高吞吐量相結合,使用TSP和TSP- link技術來減少制造封裝和測試成本。這些儀器通常用于激光二極管、LED、晶體管等晶圓半導體測試。

  • 內(nèi)置的TSP處理能力減少了電腦和儀器的總線通信
  • TSP可多與32臺儀器保證在500 ns同步,與其他Keithley TSP儀器同步
  • 2601B-Pulse On Wafer Semiconductor Testing

 

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