簡(jiǎn)要描述:布魯克ContourGT-X3 三維光學(xué)顯微鏡為實(shí)驗(yàn)室研究和生產(chǎn)過(guò)程控制提供了性能的非接觸表面測(cè)量。作為十代白光干涉測(cè)量技術(shù)創(chuàng)新和設(shè)計(jì)的之作,該計(jì)量系統(tǒng)在業(yè)界大的視野范圍內(nèi)提供了垂直分辨率。主要功能包括全自動(dòng),大型電動(dòng)X,Y,Z平臺(tái),頭部的傾斜/傾斜以及集成的空氣隔離臺(tái)。
詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,汽車(chē),電氣 |
布魯克ContourGT-X3 三維光學(xué)顯微鏡:
生產(chǎn)就緒的設(shè)計(jì)和可靠性
ContourGT-X結(jié)合了布魯克獲得的烙鐵頭/傾斜頭,獲得自校準(zhǔn)激光基準(zhǔn),集成的圖案識(shí)別以及許多其他專(zhuān)有的干涉測(cè)量技術(shù)創(chuàng)新,以提供高產(chǎn)量的極其精確的表面計(jì)量。該系統(tǒng)的自動(dòng)化就緒配置可在幾乎任何生產(chǎn)環(huán)境中進(jìn)行快速優(yōu)化,其功能包括用于提高X,Y,Z晶片放置精度的空氣穩(wěn)定器套件以及用于集成的PDU,EMO和真空系統(tǒng),以及用于自動(dòng)裝載機(jī)末端的改進(jìn)的真空吸盤(pán)。 -效果器兼容性。
高精度平臺(tái),可實(shí)現(xiàn)分辨率的成像
ContourGT-X電動(dòng)XY工作臺(tái)在X和Y方向上提供12英寸編碼運(yùn)動(dòng)。該平臺(tái)支持自動(dòng)例程,例如多點(diǎn)數(shù)據(jù)收集,以及用于大面積分析的縫合功能。0.5微米編碼器可提供可靠,可重復(fù)的自動(dòng)化和樣品定位。通過(guò)直觀的操縱桿和軟件界面控件,操作員可以輕松進(jìn)行樣品定位。
直觀的表面測(cè)量和分析軟件
布魯克的Vision64®操作和分析軟件提供了業(yè)界功能,簡(jiǎn)化的圖形用戶界面,將智能體系結(jié)構(gòu)與直觀的可視工作流以及廣泛的用戶定義的自動(dòng)化功能相結(jié)合,可進(jìn)行快速,全面的數(shù)據(jù)收集和分析。*的生產(chǎn)界面可讓ContourGT-X適應(yīng)幾乎所有生產(chǎn)環(huán)境和自動(dòng)化流程。該界面提供了用于自定義過(guò)程工作流,自動(dòng)映射和負(fù)載測(cè)量配方的工具。
布魯克ContourGT-X3 三維光學(xué)顯微鏡:
ContourGT-X 3D光學(xué)輪廓儀
用于研發(fā)和生產(chǎn)的自動(dòng)化,可計(jì)量的計(jì)量
ContourGT-X 3D光學(xué)輪廓儀為實(shí)驗(yàn)室研究和生產(chǎn)過(guò)程控制提供了性能的非接觸表面測(cè)量。作為十代白光干涉測(cè)量技術(shù)創(chuàng)新和設(shè)計(jì)的之作,該計(jì)量系統(tǒng)在業(yè)界大的視野范圍內(nèi)提供了的垂直分辨率。主要功能包括全自動(dòng),大型電動(dòng)X,Y,Z平臺(tái),頭部的傾斜/傾斜以及集成的空氣隔離臺(tái)。
ContourGT-X專(zhuān)為滿足苛刻的研發(fā),質(zhì)量保證和過(guò)程質(zhì)量控制需求而全新設(shè)計(jì),可提供具有標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格的3D光學(xué)精度和耐用性。
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